O documento descreve a história e o funcionamento do microscópio eletrônico de varredura. Foi desenvolvido na década de 1930 e influenciado pelo desenvolvimento da televisão e radar. Produz imagens de alta ampliação através de um feixe de elétrons que varre a superfície da amostra, detectando sinais que são transmitidos como imagem. Permite ampliações de até 300.000x com alta resolução.

1. MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE
VARREDURA (MEV)
Cristiane Lyznik

2. Contexto Histórico
• Em 1925, De Broglie estabeleceu conceitos
sobre o dualismo onda-partícula, que foram
importantes para o desenvolvimento da
microscopia eletrônica a partir da década de
1930;

3. Contexto Histórico
• A televisão e o radar também são dois
eventos que ocorreram na década de 30 e
foram de grande influência para o
desenvolvimento da microscopia eletrônica
no século XX;

4. Contexto Histórico
• Em 1938, Von Ardenne, físico alemão, construiu um
microscópio eletrônico de varredura e transmissão;
• O primeiro microscópio eletrônico de varredura para
observação de amostras espessas foi construído em
1942 nos laboratórios da RCA em Princeton, Nova
Jersey, por Zworykin e colaboradores;
• Com o passar do tempo, os microscópios eletrônicos
de varredura passaram por várias mudanças, hoje em
dia são equipados com estrutura digital, que permite o
armazenamento temporário da imagem para
observação

5. Microscópio Eletrônico de Varredura
• Definição:
• Este microscópio é um instrumento óptico
capaz de produzir imagens de alta ampliação,
podendo chegar até a 300.000x e de altíssima
resolução também. As imagens fornecidas são
de caráter virtual, pois o que é visualizado no
monitor do aparelho é a transcodificação da
energia emitida pelos elétrons.

6. Princípio de Funcionamento
• O princípio de um microscópio eletrônico de
varredura (MEV) consiste em utilizar um feixe de
elétrons de pequeno diâmetro para explorar a
superfície da amostra ponto a ponto, por linhas
sucessivas e transmitir o sinal do detector a uma
tela catódica, cuja varredura está perfeitamente
sincronizada com aquela do feixe incidente,
através de um sistema de bobinas de deflexão, o
feixe pode ser guiado de modo a varrer a
superfície da amostra.

7. Componentes do MEV
• Coluna óptico-eletrônica com canhão de
elétrons e sistema de redução do diâmetro do
feixe eletrônico;
• Unidade de varredura;
• Câmara de amostra;
• Sistema de detectores;
• Sistema de visualização da imagem;

9. Canhão de Elétrons

10. Lente Eletromagnética

11. Demagnificação do feixe de elétrons

12. Defeitos que podem ocorrer nas
imagens:
• Astigmatismo;
• Aberração Esférica;
• Aberração Cromática;

13. Aberração Esférica

14. Aberração Cromática

15. Sistema de Varredura
• É a incidência do feixe estacionário defletido
pelo par de bobinas eletromagnéticas situadas
numa depressão dentro da objetiva, acima da
abertura final sobre a amostra, que faz com
que estes feixes se espalhem na direção x e y
da mesma realizando assim a varredura;

16. Sistema de Varredura

17. Imagens

18. REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS
• Nussenzveig, Herch Moysés, “Curso de Física Básica”, V. 4, 1ª edição, São
Paulo, 1997.
• Nussenzveig, Herch Moysés, “Curso de Física Básica”, V. 3, 1ª edição, São
Paulo, 1997.
• Padilha, Ângelo Fernando, “Técnicas de Análise Microestrutural”, editora
Hemus
• Dedavid, Berenice Anina, “Microscopia eletrônica de varredura :
aplicações e preparação de amostras : materiais poliméricos, metálicos e
semicondutores”, Porto Alegre : EDIPUCRS, 2007.
• http://www.youtube.com/watch?v=1pzRHT54-4g
• http://zitosloko.blogspot.com/2009/03/microscopica-imagens-do-
interior-do.html
• http://pion.sbfisica.org.br/pdc/index.php/por/Multimidia/Imagens/Fisica-
e-outras-areas-da-Ciencia-e-da-Tecnologia/Formiga
• http://materiaisufpr.blogspot.com/2008/11/microscopia-eletrnica-de-
varredura.html