EXTRAÇÃO DE PARÂMETROS Procedimento e análise Gustavo Naspolini & Thiago J Oliveira
Agenda Introdução   Comparativo do método proposto Equacionamento Considerações & Simplificações Obtenção dos parâmetros  I S , V T0 , µ  e  n Caracterização Prática Resultados
novo circuito para extração quatro terminais isolados V SB  ≠ 0 V DS  constante região de operação:  linear V GB  constante G no  ≠ g mg
Na extração por g mg  o  n  está presente: expressão conhecida válida para todas as regiões n  varia com V G
Com o circuito e método propostos define-se um novo  ganho  (transcondutância) I D /V X :
Transcondutâncias em função do nível de inversão Usando a definição Gno anterior: Desenvolvendo para I D =I S ( i f  -  i r ) Desta forma o  n  desaparece da equação correspondente:
Considerando região linear, i f  =0, G nomax , 1/Ø t i f  =3, G nomax  /2
Como extrair I S , V T0 , a mobilidade e o  slope factor. Limiar   depende do  n
O Is pode ser extraído da mesma forma anterior . Observando  I D  para o ponto V X  onde i f =3, ou seja, G no /I D  = 0.5310*1/Ø t , = 20.6 O circuito é repetido para diferentes V G . I S (V G ).
Para cada V G  diferente um valor de V P  para i f  =3 é extraído. Esta curva é fundamental para obtenção do  slope factor.
Sabendo o  n  temos V T0   Para V G  =1,  n =1.239 V P  = 0.3674 V T0 =544mV  V T  processo = 0.53V
I S / n  = 6.1µA Podemos extrair também a mobilidade em função de V G
Transistor  sob caracterização prática transistor W1N do chip MOSIS 69728 características segundo o data sheet*: tecnologia: TSMC 0.35 (SCN035) canal: N lambda (λ): 0,2 design rule : SCMOS_SUBM número de canais em paralelo (N): 150 largura de canal (W): 5λ = 1,0μm comprimento de canal (L): 6λ = 1,2μm razão de aspecto nominal (N*W/L): 125 todos os terminais isolados *MOSIS 69728 – A set of multi-dimension MOS transistors for device characterization   ftp://ftp.mosis.org/pub/mosis/vendors/tsmc-035/t42u_mm_epi-params.txt
equipamento: analisador de parâmetros de semicondutores de precisão Agilent 4156C controle através da interface GPIB por um script Matlab SMU1 =  sweep  de 0V a 1,8V (1000 passos de 1,8mV) SMU1’ = offset de 13mV sobre o nó SMU1 Montagem no analisador G S D B + - SMU2=cte 0,2V 0,4V 0,6V 0,8V 1,0V 1,2V 1,5V 2,0V SMU1=[0;1,8V] + - SMU1’=SMU1+13mV VSU1=0V(GND) guard ring do chip GND: VSU1 = 0V VDD: VSU2 = 3,3V
Plot das curvas de I D  por V X  para 8 diferentes valores de V G
Curva G no  para V G  = 1V
Mesma Curva com plot invertido.
Resultados para V G =1V n  foi obtido somente com 2 pontos de V G  (1,0 ; 0,8)

Extracaotrab Gn3

  • 1.
    EXTRAÇÃO DE PARÂMETROSProcedimento e análise Gustavo Naspolini & Thiago J Oliveira
  • 2.
    Agenda Introdução Comparativo do método proposto Equacionamento Considerações & Simplificações Obtenção dos parâmetros I S , V T0 , µ e n Caracterização Prática Resultados
  • 3.
    novo circuito paraextração quatro terminais isolados V SB ≠ 0 V DS constante região de operação: linear V GB constante G no ≠ g mg
  • 4.
    Na extração porg mg o n está presente: expressão conhecida válida para todas as regiões n varia com V G
  • 5.
    Com o circuitoe método propostos define-se um novo ganho (transcondutância) I D /V X :
  • 6.
    Transcondutâncias em funçãodo nível de inversão Usando a definição Gno anterior: Desenvolvendo para I D =I S ( i f - i r ) Desta forma o n desaparece da equação correspondente:
  • 7.
    Considerando região linear,i f =0, G nomax , 1/Ø t i f =3, G nomax /2
  • 8.
    Como extrair IS , V T0 , a mobilidade e o slope factor. Limiar depende do n
  • 9.
    O Is podeser extraído da mesma forma anterior . Observando I D para o ponto V X onde i f =3, ou seja, G no /I D = 0.5310*1/Ø t , = 20.6 O circuito é repetido para diferentes V G . I S (V G ).
  • 10.
    Para cada VG diferente um valor de V P para i f =3 é extraído. Esta curva é fundamental para obtenção do slope factor.
  • 11.
    Sabendo o n temos V T0 Para V G =1, n =1.239 V P = 0.3674 V T0 =544mV V T processo = 0.53V
  • 12.
    I S /n = 6.1µA Podemos extrair também a mobilidade em função de V G
  • 13.
    Transistor sobcaracterização prática transistor W1N do chip MOSIS 69728 características segundo o data sheet*: tecnologia: TSMC 0.35 (SCN035) canal: N lambda (λ): 0,2 design rule : SCMOS_SUBM número de canais em paralelo (N): 150 largura de canal (W): 5λ = 1,0μm comprimento de canal (L): 6λ = 1,2μm razão de aspecto nominal (N*W/L): 125 todos os terminais isolados *MOSIS 69728 – A set of multi-dimension MOS transistors for device characterization ftp://ftp.mosis.org/pub/mosis/vendors/tsmc-035/t42u_mm_epi-params.txt
  • 14.
    equipamento: analisador deparâmetros de semicondutores de precisão Agilent 4156C controle através da interface GPIB por um script Matlab SMU1 = sweep de 0V a 1,8V (1000 passos de 1,8mV) SMU1’ = offset de 13mV sobre o nó SMU1 Montagem no analisador G S D B + - SMU2=cte 0,2V 0,4V 0,6V 0,8V 1,0V 1,2V 1,5V 2,0V SMU1=[0;1,8V] + - SMU1’=SMU1+13mV VSU1=0V(GND) guard ring do chip GND: VSU1 = 0V VDD: VSU2 = 3,3V
  • 15.
    Plot das curvasde I D por V X para 8 diferentes valores de V G
  • 16.
    Curva G no para V G = 1V
  • 17.
    Mesma Curva complot invertido.
  • 18.
    Resultados para VG =1V n foi obtido somente com 2 pontos de V G (1,0 ; 0,8)