Defesa de Tese Doutorado em Engenharia de Telecomunicações

1. Universidade Federal do Ceará
Centro de Tecnologia
Departamento de Engenharia de Teleinformática (DETI)
ESTUDO DAS PROPRIEDADES DIELÉTRICAS E ELÉTRICAS
DA CERÂMICA Mg4Nb2O9 ADICIONADAS COM V2O5 PARA
APLICAÇÃO EM DISPOSITIVOS DE RF E MICROONDAS
Aluno: José Miranda da Silva Filho
Orientador: Dr. Antônio Sérgio Bezerra Sombra
Defesa de Tese de Doutorado

2. 2
Sumário
 Objetivo
 Justificativas e motivação
 Fundamentação teórica
 A cerâmica LTCC (Mg4Nb2O9 ≡MN)
 Propriedades
 Aplicações
 Propriedades dielétricas
 Modelos de relaxação dielétrica
 Antenas ressoadoras dielétricas (DRAs)e e sua análise
 Procedimentos Experimentais
 Resultados e Discussões
 Conclusões
 Perspectivas futuras
 Publicações decorrentes do trabalho
 Agradecimentos
 Referências

3. 3
Objetivos
 Obter a cerâmica Mg4Nb2O9 LTCC através da síntese
de estado sólido com moagem mecânica de alta
energia.
 Estudar as propriedades elétricas e dielétricas de uma
série da cerâmica Mg4Nb2O9 obtida adicionada com
os óxidos V2O5, e discutir a influência da desse
óxido, visando conferir melhores propriedades
elétricas e dielétricas para aplicação em dispositivos
que operem em RF e microondas.
 Conferir tais propriedades através de simulações e
adequações com modelos teóricos visando otimização

4. 4
Justificativas e Motivação
 Desenvolvimento de dispositivos cada vez mais
eficientes com alto desempenho elétrico e dielétrico
para suprir o crescente setor de telecomunicação.
 Os materiais LTCC neste contexto tem grande
parâmetro de importância que é uma baixa
temperatura de sinterização que possibilita a
utilização vantajosa para os conceitos de
encapsulamento atuais em módulos microeletrônicos
e microondas.
 O presente material possui uma baixa perda dielétrica
o que também possibilita uma combinação versátil
de componentes microondas passivos tais como
micro-fitas, antenas, filtros, ressonadores, capacitores,
indutores, etc.

5. Fundamentação Teórica

6. 6
A cerâmica ortorrômbica (Mg4Nb2O9)
São classificadas em 4 (quatro) principais classes e é um
dos óxidos de niobato de magnésio já reconhecidos:
Óxido 1 (MgM2O6)
Óxido 2 (Mg4M2O9)
Óxido 3 (Mg5M4O15)
Óxido 4 (Mg2/3M11(1/3)O9)
onde (M = Ta, Nb)

7. Estrutura cristalina da cerâmica Mg4Nb2O22 (* rotação de 180° em torno de c)

8. Propriedades
 É uma cerâmica de calcinação simultânea de baixa temperatura
(LTCC).
 Permissividade dielétrica entre (10-15) ou maior.
 Baixíssimas perdas dielétricas.
 Fotoluminescente a temperatura ambiente dopado com cério.
8

9. Aplicações
Podem ser aplicadas em diferentes setores do mercado consumidor.
 Antenas ressoadoras dielétricos (DRAs)
 Material apropriado de camada de memória temporária em dispositivos de
memória ferroelétricos
 Dispositivos de múltiplas camadas em comunicações moveis e radar
 Capacitores internos que requerem desacoplamento monolítico podem ter
melhor desempenho em encapsulamento LTCC.
 Componentes embarcados em tecnologia microondas.
 Conjuntamente com componentes que requerem circuitos de alta frequência
trabalhando em comunicações de dados de alta velocidade por possuir
baixa perda.
9

10. 10
(i) Material de camadas para dispositivos de
memória temporária (BUFFER)
(ii) Antenas ressonadoras dielétricas
(iii) Capacitores de múltiplas camadas
(iv) Atuadores em pilha
(v) Transdutores
(vi) Lâmpadas fluorescentes frias
Alguns Componente fabricados com MN
terminal
terminal
Camadas
dielétricas
Eletrodo
encapamento
Camadas
dielétricas
Placa mãe
(i)
(ii)
(iii)
(iv)
(v)
(vi)

11. Propriedades dielétricas
As equações de Maxwell descrevem o comportamento dos
campos eletromagnéticos, e suas interações com os materiais.
As quatro equações de Maxwell na forma diferencial são:
t

  

B
F
 D
onde F, D, H e B são os vetores campo elétrico, densidade de
fluxo elétrico ou deslocamento elétrico, campo magnético,
densidade de fluxo magnético ou indução magnética
respectivamente, J é o vetor denominado de densidade de
corrente elétrica, e ρ a densidade de carga.

12. O parâmetro B se relaciona com o H, e o D com F, e J com F,
através das equações:
B H
D F
J F
onde µ, ε e σ são respectivamente a permissividade, permeabilidade
e a condutividade do material (meio).
Usualmente os valores relativos de µ e ε, são expressos por:
0
r




0
r




6 1
1.257 10o H m  
  
12 1
8.854 10o F m  
  
onde
e
São a permeabilidade e
permissividade do espaço
livre respectivamente.

13. A ação de um campo elétrico variante no tempo aplicado sobre um
capacitor de placas paralelas separadas de uma distância d, e com área
transversal unitária (Fig. 3.1), produz uma corrente total, dada por:
J
*
T
d
t dt


   

D F
J J J
onde, é a corrente de condução e é
definida como a permissividade complexa, a
qual é introduzida as perdas dielétrica devido
à polarização e ao movimento dos dipolos
elétricos. Isso pode ser escrito como:
J
*

* ' ''
j    ' ''
( )r r oj   
Vamos considerar para simplificação um campo aplicado
com função senoidal de frequência angular ω igual a: exp( )m j tF F
Capacitor de placas paralelas com área
unitária em campo elétrico alternado
(KAO, 2004)

14. usando as relações e equações anteriores, obtemos:
' ''
( )T j j     J F F
'' '
( ) j    F F
Em muitos casos a contribuição do primeiro termo é desprezada, e podemos escrever a
Tangente de perdas dielétricas, como mostra a figura abaixo:
'
''
r
r
eTan


 
''
rac  
erTan '

Circuito equivalente de um capacitor de placas
paralelas de área unitária em campo elétrico alternado
(KAO, 2004)
*
*
1
r
M


Espalhamento ineslático dos P. de cargas Atrito no processo de polarização
Relativo à corrente
de deslocamento

15. Modelos de Relaxação Dielétrica
Existe na literatura modelos e equações empíricas para estudar a relaxação
dielétrica de materiais.



j
s


 

1
*
  


 




 1
*
1 j
s
  



)1(
*
1






j
s
(Debye)
(Cole-Cole)
(Cole-Davidson)
(Havriliak-Negami)

16. Modelo de Debye
(TERUYA, 2008)

17. Modelo de Cole-Cole
(TERUYA, 2008)

18. Modelo de Cole-Davidson
(TERUYA, 2008)

19. Modelo de Havriliak-Negami
(TERUYA, 2008)

20. Antena Ressoadora Dielétrica (DRA) e sua análise.
Utilização dos ressoadores dielétricos (RDs):
 Por muitos anos os RDs foram usados principalmente como
osciladores e filtros em microondas.
 Materiais com εr > 20 e fator de qualidade (Q) podendo atingir
valor de até 10.000.
 São tratados como dispositivos capazes de armazenar energia e
radiadores.
20

21. A nova utilização dos RDs:
 A idéia de usar os RDs como antenas só foi bem aceita em
1983 através do estudo publicado por Long, McAllister e Shen
sobre DRA cilíndrica.
 Nesse período, observou-se bom comportamento numa faixa
de rádio frequência a microondas, podendo ser usado em
ondas milimétricas (100 – 300 GHz).
 E posteriormente estudos foram desenvolvidos pela
comunidade científica para DRA retangulares, semi-esféricas,
triangulares, esféricas e anel-cilíndricas.
21

22. Diferentes formas geométricas para as DRAs (LUCK; LEUNG, 2003)
22
Tipos:
Cilíndrico
Semi-esférico
Retangular
Esférico
Disco circular
Triangular

23. Vantagens
23
 Uma das grandes vantagens das DRAs comparadas com antenas
metálicas tradicionais é o fato desta não possuir perdas por condução
principalmente em microondas.
 E conseqüentemente grande eficiência de radiação por haver poucas
perdas devido a ausência de metais.
 Vantagens em relação ao tamanho, perfil e peso, e dimensão
proporcional a:
 E possuir maior largura de banda e mecanismo de excitação simples,
flexíveis e fáceis de controlar.
'
0 r 

24. Os principais modos de ressonância:
 Transversal Elétrico (TE)
 Transversal Magnético (TM)
 Híbridos (HEM)
Geralmente, os modos que são utilizados para aplicações em
que o ressoador é o elemento radiante são os modos TM01δ,
TE01δ e HEM10δ.
24

25. 25
Aproximações iniciais:
 Paredes perfeitamente condutoras e contato da sonda com o ressoador são
ignorados
As funções de ondas, para o modos TE e TM na direção de z:
( )
TE
np
TEnpm n
X
J Asen B
a
 
 
   
 
cos( )
TM
np
TMnpm n
X
J A B
a
 
 
   
 
( )
cos( )
sen n
A
n


 
  
 
(2 1)
2
m z
B
d
 
   
onde e
Os índices subscritos em cada modo (TEnpm) e (TMnpm) se refere as variações do campo
nas direções azimutal , radial e axial . E é a função de Bessel
de ordem n de primeiro modo. A escolha de e depende da posição de
alimentação e são raízes que satisfazem as equações que seguem:
( )n  ( )p  ( )m z nJ
 sen n  cos n
,TE TM
np npX X
DRA cilíndrico com plano de terra em Z=0

26. 26
  0TE
n npJ X 
 '
0TM
n npJ X 
TE:
TM:
em que é derivada de ordem n da função de Bessel de primeiro modo em
relação a . Através da equação de onda:
'
nJ
r 
2
2 2 2
r z r
f
k k
c


 
   
 
1
TE
np
r TM
np
X
k
a X
  
  
  
(2 1)
2
z
m
k
d


2
2
2
1 ( )
(2 1)
42
npm
a
f C m
da

 
  
TE
np
TM
np
X
C
X
  
  
  
com e
podemos obter a freqüência de ressonância:
onde
podemos observar que o ressoador dielétrico cilíndrico oferece grande flexibilidade, pois
através da razão raio (a) e altura (d) do ressoador pode-se controlar a freqüência de
ressonância e o fator de qualidade com boa precisão, uma vez que a permissividade (ε) e
a permeabilidade (μ) são características do próprio material em estudo.

27. Procedimentos Experimentais

28. +
Pré-cursores
4MgO Nb2O5 Mg4Nb2O9

29. 29
Nb2O5MgO
1 2
1
2
3
2 5 4 2 94MgO Nb O Mg Nb O 
3
Procedimentos para a produção da cerâmica através do método de reação de estado sólido

30. 30
Procedimentos para a produção das peças em pastilhas e as RDA cilíndricas

31. 31
Óxidos de partida
MgO +Nb2O3
Moagem (370 rpm /5h)
Conformação (5MPa)
Sinterização – 1050° C – 4h Medidas
- DRX
- MEV
- RF e MW
4MgO + Nb2O3  Mg4Nb2O9
Pesagem
Calcinação – 1000° C – 5h

32. Sumário descritivo das amostras preparadas
32
Nomenclatura Descrição da Amostras Ligante (1%)
MN00 Mg4Nb2O9 + V2O5 (0%) PVA
MN02 Mg4Nb2O9 + V2O5(2%) PVA
MN05 Mg4Nb2O9 + V2O5(5%) PVA
MN10 Mg4Nb2O9 + V2O5(10%) PVA
MN15 Mg4Nb2O9 + V2O5(15%) PVA

33. Resultados e Discussões
33

34. Difração de Raios-X

35. Identificação de Fase
Difratograma padrão e o obtido através da moagem mecânica por 5h (CoKα, λ=1.88405 Å)
35
A identificação da
maioria dos picos de
difração foi realizada
e concorda com a
estrutura cristalina
hexagonal

36. Refinamento Rietveld
36
Padrões de Difração do refinamento de Rietveld para Mg4Nb2O9 para
Observado , Calculado e Diferença (Observado – Calculado)
(CoKα, λ=1.8885Å)

37. Microscopia Eletrônica de
Varredura (MEV)

38. Microestrutura
38
Micrografias da amostra da série MN: a) MN00 b) MN02 c) MN05 d) MN10 escala de x1000 e |--|2µm

39. Análise Dielétrica - RF

40. (Temperatura Ambiente)
Análise Dielétrica - RF

41. Permissividade Dielétrica
41
Tabela 4.2 - Parte real da permissividade e tangente para diferentes valores de freqüência em temperatura ambiente

42. 42
Condutividade
1kHz 10kHz 100kHz 1MHz
AMOSTRAS ɛRe
tanδ ɛRe
tanδ ɛRe
tanδ ɛRe
tanδ
MN00 16,7 0,977 11,7 0,261 10,40 0,065 10,1 0,024
MN02 15,8 0,069 14,7 0,038 14,14 0,021 14,0 0,016
MN05 20,2 0,075 16,3 0,139 14,18 0,053 12,5 0,209
MN10 3,2 0,088 2,8 0,158 2,43 0,093 1,70 0,109

43. (Função da Temperatura)
Análise Dielétrica - RF

44. Permissividade Dielétrica Parte Real
– Parte real da permissividade variando com a freqüência para diferentes temperaturas das amostras: a) N00 b) (MN0 2c) MN05 e d) MN10.

45. Permissividade Dielétrica Parte Complexa
Parte imaginária da permissividade e a frequência com diferentes temperaturas das amostras:MN00, MN02, MN05 e MN10.

46. Impedância Elétrica Parte Real
↑σ
liberação de possíveis
cargas espaciais, ou
consequentemente a
diminuição da
barreira de energia de
separação dos
portadores de cargas
nos materiais
(ASHOK KUMAR et
al., 2006)

47. Impedância Elétrica Parte Imaginária
Um único pico de perda
Convergência de
cargas espaciais

48. Figuras de Nyquist
gg
g
g
CRi
R
Z


1
gbgb
gb
gb
CRi
R
Z


1
22
'
)(1)(1 RgRg
gb
gg
g
CR
R
CR
R
Z
 














 22
''
)(1)(1 RgRg
gbgb
gb
gg
gg
CR
CR
R
CR
CR
Z




As componentes real e imaginária
da impedância total do circuito
equivalente são dadas por:
Os menores diâmetros em baixas
frequências representam pequenas
resistências e diminuem com
aumento da temperatura (JAMNIK,
2001; ABDULLAH; YUSOFF, 2001)

49. Variação da condutividade ac em função da frequência e da temperatura
Condutividade







KT
Ea
exp0
Natentativadeexplicaromecanismodetrans.elétrico
dispersão
Arhenius

50. Valores de Condutividade com
Parte Imaginária da Impedância
305 2.99 x 106 2.85 x 10-9 8.67 x 107 6.99 x 10-11 8.45 x 108 5.86 x 10-8
330 1.10 x 106 7.76 x 10-9 2.42 x 107 2.22 x 10-10 6.94 x 107 7.42 x 10-7
355 3.35 x 105 2.55 x 10-8 8.68 x 106 7.30 x 10-10 2.93 x 107 1.38 x 10-7
380 1.39 x 105 6.16 x 10-8 1.17 x 106 5.22 x 10-9 3.54 x 106 1.48 x 10-5
405 1.29 x 105 1.29 x 10-7 4.63 x 105 1.32 x 10-8 4.53 x 105 1.16 x 10-4
430 3.56 x 105 2.40 x 10-7 1.41 x 105 4.34 x 10-8 1.59 x 105 3.29 x 10-4
ToC ZRe (Ω)
MN00
σ [(Ω.m)-1]
MN00
ZRe (Ω)
MN02
σ (Ω.m)-1
MN02
ZRe (Ω)
MN05
σ (Ω.m)-1
MN05

51. Módulo Dielétrico
1M  
Variação do módulo elétrico real em função da frequência e da temperatura
Como no caso
temp. ambiente.
Ausência de
força
restauradora
governando a
mobilidade dos
portadores de
carga sob a ação
de um campo
elétrico induzido

52. Variação do módulo elétrico imaginário em função da frequência e da temperatura
Na região onde o pico aparece é um indicativo de transição de faixa da mobilidade longa para a curta , com o
aumento da frequência e temperatura para os portadores de carga envolvidos no processo (Não-Debye).
(Arrhenius)







KT
E
ff a
exp0

53. Energias de Ativação
Variação de σdc vs. 103/T e fmax vs. 103/T para as amostras analisadas

54. Energias de Ativação

55. Análise em Microondas
(Hakki-Coleman)

56. Permissividade Dielétrica
Variação da constante dielétrica (ε’r) em função da concentração de V2O5 para o
ligante PVA

57. 57
Variação da Tangente de perdas dielétricas (Tanδe) em função da concentração de V2O5
para o ligante PVA
Tangente de Perdas Dielétrica
-2 0 2 4 6 8 10 12 14 16
0,0000
0,0002
0,0004
0,0006
0,0008
0,0010
0,0012
0,0014
0,0016
0,0018Tg
V2
O5
(%)

58. Fator de Qualidade

59. Coeficiente de Temperatura na
Frequência de Ressonância
-0,02 0,00 0,02 0,04 0,06 0,08 0,10 0,12 0,14 0,16
-100000
-80000
-60000
-40000
-20000
0
20000
f
V2
O5

60. 60
Medidas de Microondas obtidas através do procedimento Hakki-Coleman. fr (freqüência de
ressonância), ε’r (permissividade dielétrica) e Tanδe (Tangente de perdas dielétricas)
Amostras fr (GHz) ε'
r Tanδe Qf
MN00 8,89 7,48 1,69 x 10-3 605
MN02 7,88 10,91 5,06 x 10-4 2010
MN05 7,75 10,56 3,01 x 10-4 3377
MN10 7,18 13,74 8,88 x 10-5 11478
MN15 7,14 13,21 9,36 x 10-5 10823

61. Coeficientes de temperatura na frequência de ressonância para MN00, MN02 e MN05
61
10f
i
f
f T


 


62. Coeficiente de Temperatura na
Frequência de Ressonância
f
Amostra (ppm/oC)
MN00
-193,95
MN02
-76,20
MN05
-177,58
MN10 -1005.45
MN15
143.68

63. Adequação dos Dados Experimentais
com os Modelos de Relaxação
Z = Z∞ + ( Z0 - Z∞ ) /[1 + (√-1)τ.ω] 1 – α

64. Adequação dos Dados RF
Aproximação do modelo com os valores experimentais de MN02

65. Adequação dos Dados RF
Aproximação do modelo com os valores experimentais de MN02

66. Adequação dos Dados RF

67. Adequação dos Dados RF

68. Adequação dos Dados RF

69. Adequação dos Dados RF

70. Valores dos parâmetro de adequação
para o Modelo de Relaxação de Cole-Cole
Temp.oC σ0[S/cm] τ[s] α R0 [Ω] R∞ [Ω] ∆R [Ω]
305 1.13e-9 48.00x10-3 0.21 91.00x106 25 90.99x106
330 1.12e-9 13.00x10-3 0.26 27.60x106 225 27.59x106
355 1.13e-9 0.43x10-3 0.22 8.39 x106 120 8.39 x106
380 1.13e-9 4.87x10-3 0.23 1.18x106 225 1.17 x106
Valores dos parâmetros de aproximação da função Cole-Cole com os dados experimentais

71. Atenas Dielétrica Ressonadoras
(Simulação usando Método de
Elemento Finito)

72. Antenas Dielétrica Resonadora

73. Perda de Retorno
Perda de retorno experimental e simulada para a amostra pura MN00

74. Perda de Retorno
4,0x10
9
4,5x10
9
5,0x10
9
5,5x10
9
6,0x10
9
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
Experimental
Simulada
S11
(dB)
Frequência (Hz)
Perda de retorno da amostra de MN02

75. Perda de Retorno
Perda de Retorno para MN05

76. Perda retorno

77. Padrão de Radiação
Padrões de Radiação Simulada de (a) Eθ (φ=0o) e Eθ (φ=90o); (b) Eφ (θ = 00) e Eφ (θ = 900) da amostra MN00

78. Padrão de Radiação
Padrões de Radiação Simulada de (a) Eθ (φ=0o) e Eθ (φ=90o); (b) Eφ (θ = 00) e Eφ (θ = 900) da amostra MN02

79. Padrões de Radiação Simulada de (a) Eθ (φ=0o) e Eθ (φ=90o); (b) Eφ (θ = 00) e Eφ (θ = 900) da amostra MN05

80. Carta de SMITH
Carta de SMITH da impedância de entrada experimental e HFSS para a amostra pura e MN02

81. Conclusões
Tendo em vista todos os resultados do presente trabalho podemos concluir
que a moagem mecânica de alta energia foi eficaz na obtenção da
hexaferrita, bem como:
 A hexaferrita (Ba2Co2Fe12O22) mostrou-se potencialmente aplicável em
dispositivos em rádio frequência por apresentar grandes valores de
permissividade 32,2 para (Y-Bi3T) e pequenas perdas dielétricas
1,03x10-2 para (Y- Pb3P) em 100MHz.
 E passiva de miniaturização, e também possível uso proposto como
antenas ressoadoras dielétricas em microondas por apresentar
permissividade dielétrica e perdas dielétricas de até 32,19 e 3,71x10-2 em
4,81 GHz para (Y- Pb3P) e 37,75 e 5,14x10-2 em 4,76 GHz para
(Y- Bi10P).
81

82. Perspectivas futuras
 O emprego de novas metodologias para obtenção do material cerâmico;
 O aprofundamento no estudo microestrutural do material estudado
(microdeformação);
 Emprego de outras técnicas de caracterização de materiais
(Infravermelho,);
 Análise mais minuciosa da influência da composição dos pré-cursores
visando melhorias nas propriedades dielétricas e microondas do material
aqui estudado
 Mudança do precursor Nb2O5 por Ta2O5
 Investigar as propriedades de fotoluminescência através da dopagem de
cério;
 Síntese e caracterização de uma outra fase para obtenção de um compósito
estável na faixa de microondas com a temperatura, envolvendo essa duas
fases.
 Construção de um protótipo de uma DRA feita do material estudado
unidirecional polarizada com distribuições de campo para dois modos
ortogonais excitados
82

83. Agradecimentos
 Ao Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico
(CNPq)
 U.S Air Force Office of Scientific Research (AFOSR) (FA9550-06-1-0543
and FA9550-08-1-0210)
 Laboratório de Raios-X da Universidade Federal do Ceará.
83

84. Referências
84
[1]FREIRE, F. N. A. Síntese e Estudo das Propriedades Estruturais e
Dielétricas de Matrizes Cerâmicas Compósitas (CMC) Baseadas em:
(Fe1/4Cu1/8Ti3/8)2O3/Fe5/8Cr3/8)2 O3/ b(Fe1/2Nb1/2)O3/CaTiO3 Para
Uso em Dispositivos Eletrônicos. Tese (Doutorado em
Química Inorgânica) – Universidade Federal do Ceará (UFC), 2008.
[2]L. P. Curecheriu. R. Frunza. And A. Ianculescu. Proces. Appl. Ceramic.
2. 81(2005).
[3]M.A.L. Nobre and S. Lanfredi. J.Phys. Condens. Matter. 12. 7833(2000).
[4]P.K. Larsen and R. Metselaar. Phys. Ver.B 8. 2016(1972)
[5]T. Ivetic (D.Sc. Thesis, Faculty of Physical Chemistry, University of
Belgrade, 2008)
[6]K. Wakino, T. Nishidawa, Y. Iahikawa, H. Tamura, R. Ceram. Trans.
89(2), 39 – 43 (1990)
[7]N, Kumada, K. Taki, N. Kimonura, Mater. Res. Bull. 35, 1017 (2000)
[8]P. B. Macedo, C. T. Moynihan and R. Bose, Physics and Chemistry of
Glass, Vol. 13, 1972, p.172.
[9]V. Provenzano, L. P. Boesch, V. Volterra, C. T. Oynihan, P. B. Macedo,
“Electrical Relaxation in Na2O.3SiO2 Glass,” “Jounal of the American
Ceramic Society”, Vol. 55, No. 1972, pp. 492 -496
doi: 10.1111./j.1151-2916.1972.tb13413.x

85. [10] H. Jain and C. H. Hsieh, “ Window Effect in the Analysis of Frequency
Dependence of Ionic Conductivity” Journal of Non-Crystalline Solids, Vol.
ctivity,”172-174, 1994, pp. 1408-1412. Doi:10.1016/0022-3093(94)90669-6
[11] A. Kumar, B. P. Singh, R. N. P. Choudhary, A. K. Thakur, Mater. Chem. Phys. 99,
150 (2006).
[12] B. Behera, P. Nayak, and R. N. P. Choudhary, J. Alloys Compds. 436, 226
(2007).
[13] S. Chatterjee, P. K. Mahapatra, R. N. P. Choudhary and A. K. Thakur, “Complex
Impedance Studies of Sodium Pyrotungstate—Na2W2 O7 ,” Physica Status Solidi
(a),Vol. 201 No.3, 2004, pp. 588-595. Doi:10.1002/pssa.200306741
[14] J. R. MacDonald, Impedance Spectroscopy (Wiley, New York, 1987).
[15] Cole, K.S., Permeability and impermeability of cell membranes for ions. Quant.
Biol., 1940. 8: p. 110–122
[16]B. W. Hakki and P. D. Coleman. A dielectric resonator method of measuring
Inductive caacities in the millimeter range. IRE Trans. Microw. Theory Tech. MTT-
8(1960)402–410.
[17]Xiao-Zi Yuan, Chaojie Song, Haijiang Wang, Jiujun Zhang, Electrochemical
Impedance Spectroscopy in PEM Fuel Cells Fundamentals and Applications
Springer
[18] P.B. Macedo, .T. Moynihan, R. Bose, Phys. Chem. Glasses 13, 171 (1972).
[19]W. E. Courtney. Analysis and evaluation of a method of measuring complex
permittivity and permeability of microwave materials. IEEE Trans. Microw. Theory
Tech. MTT-18(1970)476–485

86. Publicações Decorrentes do Trabalho
PUBLICAÇOES RELACIONADAS À TESE
1. J.M.S. FILHO,1,2,5 C.A. RODRIGUES JUNIOR,4 D.G. SOUSA,3R.G.M.
OLIVEIRA,1 M.M. COSTA,3 G.C. BARROSO,4 and A.S.B. SOMBRA2, Impedance
Spectroscopy Analysis of Mg4Nb2O9 Ceramics with Different Additions of V2O5 for
Microwave and Radio Frequency Applications, Journal of ELECTRONIC
MATERIALS, Vol. 46, No. 7, 2017 doi: 10.1007/s11664-017-5324-0 2017
PUBLICAÇÕES NÃO RELACIONADAS À TESE
2. R.G.M. Oliveira, 1,2 D.B. Freitas,2 M.C. Romeu,2 M.A.S. Silva,2A. J. M. Sales,1,2
A.C. Ferreira,2 J.M.S. Filho,1,2 andA.S.B. Sombra, Design and Simulation of
Na2Nb4O11 Dielectric Resonatot Antenna Added with Bi2O3 for Microwave
Aplication, 1,2 DOI 10.1002/mop Microwave and Optical Technology Letters / Vol. 58,
No. 5, May 2016.

87. 3. D. G. Sousa G. D. Saraiva, J. M. S. Filho, J. M. Filho, A. S. B. Sombra,
Dielectric and microwave properties study of TiFeNbO6 ceramics added
Bi2O3, J Mater Sci: Mater Electron 2014 25:4450–4457 doi:
10.1007/s10854-014-2187-5.
4. R.G.M. Oliveira a, M.C. Romeu a, M.M. Costa b,c, , P.M.O Silva a, J.M.S.
Filho a, C.C.M. Junqueira d, A.S.B. Sombra a Impedance spectroscopy
study of Na2Nb4O11 ceramic matrix by the addition of Bi2O3, Journal of
Alloys and Compounds 584 2014 295–302,
http://dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2013.08.208.
5. M. C. Romeu, R. G. M. Oliveira, A. J. M. Sales, P. M. O. Silva, J. M. S.
Filho, M. M. Costa A. S. B. Sombra. Impedance spectroscopy study of
TiO2 addition on the ceramic matrix Na2Nb4O11, Mater Sci: Mater
Electron 2013 24:4993–4999 doi 10.1007/s10854-013-1514-6
6. C.A. Rodrigues Jr., J.M.S. Filho, P.M.O. Silva, M.A.S. Silva, C.C.M.
Junqueira, A.S.B. Sombra, “High dielectric permittivity and low loss of
SrBi4Ti4 with PbO and V2O5 additions for RF and microwave
applications”, 2013 Journal of Material Sci: Mater Electrons. Online
ISSN1573-482X, 0957-4522. doi: 10.1007/s10854-013-1271-6.

88. Trabalhos apresentados em congressos e encontros
1. Sousa, D.G., Silva Filho, J.M., Sales, J.C., Silva, M.A.S., Sales, A.J.M.,
Nascimento, J.P.C., Rodrigues Junior, C.A., Sombra, A.S.B., Caracterização
dielétrica da cerâmica ferroelétrica Ti0.4Fe0.3Nb0.3O2 (TFNO) com adição
de Bi2O3, 57o Congresso Brasileiro de Cerâmica & 5o Congresso Ibero-
americano de Cerâmica de 19 a 22 de Maio de 2013 Natal –RN -Brasil
2. Rodrigues Junior, C.A, Silva Filho, J.M., Sales, J.C., Silva, M.A.S., Sales,
A.J.M., Nascimento, J.P.C., Sombra, A.S.B., Estudo das propriedades
dielétricas do SrBi4Ti4O15 (SBTi) dopado com V2O5, 57o Congresso
Brasileiro de Cerâmica & 5o Congresso Ibero-americano de Cerâmica de 19
a 22 de Maio de 2013 Natal –RN –Brasil.
3. M.C. Romeu, R.G.M. Oliviera, A.J.M. Sales, P.M.O. Silva, J.C. Sales, Silva
Filho, J.M., C.A.R. Junior, Sombra, A.S.B., Estudo Estrutural e dielétrico da
matriz cerâmica Na2Nb4O11 adicionado com TiO2, 57o Congresso
Brasileiro de Cerâmica & 5o Congresso Ibero-americano de Cerâmica de 19
a 22 de Maio de 2013 Natal –RN –Brasil.
4. Rodrigues Junior, C.A, Silva Filho, J.M., Freitas, D.B., Oliveira, R.G.M.;
Sales, J.C., Silva; J.P.C., Sombra, A.S.B., Estudo das propriedades dielétricas
do SrBi4Ti4O15 (SBTi) dopado com PbO, 56o Congresso Brasileiro de
Cerâmica & 5o Congresso Ibero-americano de Cerâmica de 03 a 06 de Maio
de 2012 Curitiba –PN –Brasil

89. 5. Sales, J.C.; Sales, A.J.M.; Almeida, J.s.; Silva Filho, J.M.; Sombra,
A.S.B.; Sancho, E.O.; Os fornos na indústria cerâmica no Ceará 56o
Congresso Brasileiro de Cerâmica & 5o Congresso Ibero-americano de
Cerâmica de 03 a 06 de Maio de 2012 Curitiba –PN –Brasil.
6. Sancho, E.O; Freitas, D.B.; Sales, A.J.M; Sales, J.C.; Silva Filho, J.M.;
Sombra, A.S.B. Propriedades estruturais e elétricas da cerâmica
SrBi2Nb2O9 fabricada por moagem de alta energia, 56o Congresso
Brasileiro de Cerâmica & 5o Congresso Ibero-americano de Cerâmica
de 03 a 06 de Maio de 2012 Curitiba –PN –Brasil.
7. Sales, J.C.; Sales, A.J.M.; Almeida, J.s.; Silva Filho, J.M.;.; Sancho,
E.O.; Sombra, A.S.B. Os 45 anos da cerâmica santa Edwiges Ltda. 56o
Congresso Brasileiro de Cerâmica & 5o Congresso Ibero-americano de
Cerâmica de 03 a 06 de Maio de 2012 Curitiba –PN –Brasil.
8. Silva Filho, J.M., Sales, J.C.; Oliveira, R.G.M; Freitas, D.B.; Rodrigues
Jr., C.A.; Sancho, E.O.; Sombra, A.S.B. VII Congresso Nacional de
Engenharia Mecânica - CONEM 2012 – 31 de Julho a 03 de agosto de
2012 – São Luís – Maranhão – Brasil.
9. Oliveira, R.G.M; Romeu, M.C.; Sales, J.C.; Sombra, A.S.B.; Silva,
P.M.O.; Filho, J.M.S. Estruturas das Matrizes Cerâmicas Na2Nb4O11
para Aplicações em Componentes de Rádio Freqüência e Microondas.
55o Congresso Brasileiro de Cerâmica de 29 Maio a 01 Junho de Maio
de 2012 Porto de Galinhas –PE –Brasil.
10. Rodrigues Junior., C.A.; Silva Filho, J.M., Freitas; Sales, J.C., Silva;
M.A.S.; Sombra, A.S.B. Caracterização e estudo de propriedades
elétricas do SrBi4Ti4O15 (SBTi) dopado com PbO, 53o Congresso
Brasileiro de Cerâmica de 07 a 06 de Junho de 2009, Guarujá –
SP –Brasil.

90. Obrigado!
90