Canhões de Elétrons
André Luiz Pinto, DC
Chefe do Laboratório de
Microscopia Eletrônica do IME
Jeol
Canhão de Elétrons
ZrO/W(100) Schottky
Type Electron Gun
Higher brightness, 100
times greater than LaB6
gun
Higher coherency
Higher energy resolution,
0.7 to 0.8eV
Higher stability over a
cold FEG
Longer life time 1.5 to 3
years (guarantied time:
5,000 hours)
Jeol
O que desejamos em um
canhão?
Alto brilho
Fonte de dimensões reduzidas
Estabilidade
Energia Controlável
Coerência
Brilho
Definimos o brilho como a densidade de
corrente (corrente, ie, por unidade de área)
emitido em um ângulo sólido αo.
Unidade: A/m2sr
( )2
2
2
o
o
e
d
i
αππ
β
⎟
⎠
⎞
⎜
⎝
⎛
=
Jeol
Energia dos Elétrons
Através do Princípio da Dualidade Onda-
Partícula de de Broglie podemos associar o
momento da partícula ao seu comprimento
de onda
Energia cinética do elétron a partir do seu
potencial de aceleração
p
h
=λ
eVmvmp
vm
eV oo
o
2
2
2
==⇒=
Energia dos Elétrons
Comprimento de onda
Correção relativística
eVm
h
o2
=λ
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛
+
=
2
2
12
cm
eV
eVm
h
o
o
λ
Fontes Termiônicas
Lei de Richardson para a densidade de
corrente
kT
eATJ
Φ
−
= 2
A- Cte de Richardson
Φ - Função Trabalho
K – Cte de Boltzmann
Filamento de W
Baixo custo (~ US$ 90)
Baixa vida (~ 100 h)
Baixo brilho
Williams e Carter
Filamento de LaB6
Maior custo (~US$ 1-3k)
Maior vida (~500 h)
Maior brilho
Monocristal <100>
Suporte resistivo de grafite
ou rênio
Sujeito a choque térmico
Altamente reativo
Podem ter efeito Schottky
(ponta com r~1-10µm dobra
o brilho)
Williams e
Carter
Goldstein et all
Saturação
Williams e CarterJeol
Saturação
Williams e CarterJeol
Canhão de Elétrons - Wehnelt
Jeol
Williams e Carter
Controle do Bias
Williams e Carter
Jeol
Problemas das Fontes
Termiônicas
Evaporação do catodo
“Thermal drift”
Baixo brilho
Brilho máximo
kT
eVJ oc
Max
π
β =
Canhão de Emissão por Campo
(Field Emission Gun - FEG)
Monocristal <310> com ponta
afiada (r<100 ηm)
Menor raio concentra o campo
elétrico e diminui a necessidade
de T
V1 – voltagem de extração
(3-5 kV)
V2 – voltagem de aceleração
Brilho máximo
E
eVJ oc
Max
∆
=
π
β
Williams e Carter
Canhão de Emissão por Campo
(Field Emission Gun - FEG)
3 tipos básicos
Frio
Térmico
Schottky
Crossover
Frio - < 5 ηm
Térmico - < 5 ηm
Schottky - < 15-30 ηm
Variação da Energia (∆E)
Frio – 0,3 eV
Térmico – 1 eV
Schottky – 0,3 - 1 eV
Estabilidade
Frio – 5%/h
Térmico – 5%/h
Schottky – 2%/h
Goldstein et all
Goldstein et all
Williams
e Carter
Degradação da Fonte
Goldstein et all
Coerência
Coerência avalia quão “em fase” estão as
ondas de elétrons
Coerência temporal
Coerência Espacial
α - ângulo de convergência
FEG possui grande coerência temporal e
espacial
E
vh
c
∆
=λ
α
λ
2
<<cd
Diâmetro do Feixe
O diâmetro final, dt, é resultado do diâmetro
do “crossover” alargado pela aberração
esférica da lente objetiva, ds, e a difração
pela última abertura, dd.
222
dsgt dddd ++=
αβπ
12
2
⎟⎟
⎠
⎞
⎜⎜
⎝
⎛
=
i
dg
3
5,0 αss Cd =
α
λ
22,1=dd
Referências
Williams, D. B. e Carter, C. B.,
“Transmission Electron Microscopy” , Ed.
Plenum, New York, 1996.
Goldstein, J. et all, “Scanning Electron
Microscopy and X–Ray Analysis”, Ed.
Springer, 2003.
Apostila da Jeol – MET
Apresentação da Jeol – Jeol 2100F

Canhao eletrons ime

  • 1.
    Canhões de Elétrons AndréLuiz Pinto, DC Chefe do Laboratório de Microscopia Eletrônica do IME
  • 2.
  • 3.
    Canhão de Elétrons ZrO/W(100)Schottky Type Electron Gun Higher brightness, 100 times greater than LaB6 gun Higher coherency Higher energy resolution, 0.7 to 0.8eV Higher stability over a cold FEG Longer life time 1.5 to 3 years (guarantied time: 5,000 hours) Jeol
  • 4.
    O que desejamosem um canhão? Alto brilho Fonte de dimensões reduzidas Estabilidade Energia Controlável Coerência
  • 5.
    Brilho Definimos o brilhocomo a densidade de corrente (corrente, ie, por unidade de área) emitido em um ângulo sólido αo. Unidade: A/m2sr ( )2 2 2 o o e d i αππ β ⎟ ⎠ ⎞ ⎜ ⎝ ⎛ = Jeol
  • 6.
    Energia dos Elétrons Atravésdo Princípio da Dualidade Onda- Partícula de de Broglie podemos associar o momento da partícula ao seu comprimento de onda Energia cinética do elétron a partir do seu potencial de aceleração p h =λ eVmvmp vm eV oo o 2 2 2 ==⇒=
  • 7.
    Energia dos Elétrons Comprimentode onda Correção relativística eVm h o2 =λ ⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜⎜ ⎝ ⎛ + = 2 2 12 cm eV eVm h o o λ
  • 8.
    Fontes Termiônicas Lei deRichardson para a densidade de corrente kT eATJ Φ − = 2 A- Cte de Richardson Φ - Função Trabalho K – Cte de Boltzmann
  • 9.
    Filamento de W Baixocusto (~ US$ 90) Baixa vida (~ 100 h) Baixo brilho Williams e Carter
  • 10.
    Filamento de LaB6 Maiorcusto (~US$ 1-3k) Maior vida (~500 h) Maior brilho Monocristal <100> Suporte resistivo de grafite ou rênio Sujeito a choque térmico Altamente reativo Podem ter efeito Schottky (ponta com r~1-10µm dobra o brilho) Williams e Carter Goldstein et all
  • 11.
  • 12.
  • 13.
    Canhão de Elétrons- Wehnelt Jeol Williams e Carter
  • 14.
  • 15.
    Problemas das Fontes Termiônicas Evaporaçãodo catodo “Thermal drift” Baixo brilho Brilho máximo kT eVJ oc Max π β =
  • 16.
    Canhão de Emissãopor Campo (Field Emission Gun - FEG) Monocristal <310> com ponta afiada (r<100 ηm) Menor raio concentra o campo elétrico e diminui a necessidade de T V1 – voltagem de extração (3-5 kV) V2 – voltagem de aceleração Brilho máximo E eVJ oc Max ∆ = π β Williams e Carter
  • 17.
    Canhão de Emissãopor Campo (Field Emission Gun - FEG) 3 tipos básicos Frio Térmico Schottky Crossover Frio - < 5 ηm Térmico - < 5 ηm Schottky - < 15-30 ηm Variação da Energia (∆E) Frio – 0,3 eV Térmico – 1 eV Schottky – 0,3 - 1 eV Estabilidade Frio – 5%/h Térmico – 5%/h Schottky – 2%/h Goldstein et all
  • 18.
  • 19.
  • 20.
    Coerência Coerência avalia quão“em fase” estão as ondas de elétrons Coerência temporal Coerência Espacial α - ângulo de convergência FEG possui grande coerência temporal e espacial E vh c ∆ =λ α λ 2 <<cd
  • 21.
    Diâmetro do Feixe Odiâmetro final, dt, é resultado do diâmetro do “crossover” alargado pela aberração esférica da lente objetiva, ds, e a difração pela última abertura, dd. 222 dsgt dddd ++= αβπ 12 2 ⎟⎟ ⎠ ⎞ ⎜⎜ ⎝ ⎛ = i dg 3 5,0 αss Cd = α λ 22,1=dd
  • 22.
    Referências Williams, D. B.e Carter, C. B., “Transmission Electron Microscopy” , Ed. Plenum, New York, 1996. Goldstein, J. et all, “Scanning Electron Microscopy and X–Ray Analysis”, Ed. Springer, 2003. Apostila da Jeol – MET Apresentação da Jeol – Jeol 2100F