O documento descreve estudos de dopagem em filmes finos de carbeto de silício amorfo hidrogenado (a-SiC: H) usando diferentes técnicas como implantação iônica e difusão térmica. Implantação iônica com boro, nitrogênio e fósforo forneceu perfis de dopagem uniformes e melhores resultados foram obtidos com altas concentrações de dopantes. Difusão térmica de alumínio mostrou resultados promissores, mas requer mais estudos devido a problemas com o substrato de