O documento descreve uma pesquisa sobre parcerias de Institutos Nacionais de Metrologia no desenvolvimento tecnológico e científico. A metodologia incluiu mapear documentos de patentes entre 1993-2013 para identificar parcerias, e criar uma base de dados para monitorar novas tecnologias. Os resultados preliminares mostraram 1.023 documentos de patentes de institutos selecionados nos EUA, Alemanha, China, Índia, Rússia e Brasil.