O documento descreve a técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) e sua utilização para produzir imagens de alta ampliação de amostras. Ele também discute como a técnica de difração de elétrons retroespalhados (EBSD) pode ser usada junto com o MEV e EDS para caracterizar materiais a nível microestrutural e identificar fases minerais.