1. AUSENCIA SISTEMÁTICA

2. FACTOR DE ESTRUCTURA
La dispersión de la onda incidente por una celda unitaria tiene que ver
con la suma de diferentes ondas dispersadas por los electrones
contenidos en la celda, con diferentes fases y diferentes amplitudes.
La intensidad de la reflexión está dada por la siguiente ecuación:
I(hkl) ∞ [F(hkl)]2
El factor de estructura, F(hkl) es:
F(hkl) =
Donde:
2 πi (h x +k y +l z )
∑ fα e
α
α
α
α
f = factor de dispersión atómico
x α , y α , z α = posición del átomo α
Si la celda unitaria es descrita por una base de átomos con
coordenadas (x1, y1, z1), (x2, y2, z2), (x α , y α , z α ) y factores de
dispersión atómicos f1, f2... fα .

3. INTENSIDAD DE LA LUZ DIFRACTADA
1. Las posiciones de los átomos en la celda unitaria afectan
las intensidades, pero no las direcciones de la luz
difractada.
2. Un arreglo particular de átomos en una misma celda
unitaria puede eliminar completamente una reflexión.
El arreglo atómico también puede disminuir la intensidad
de un rayo, sin anularlo.
3. Conociendo la intensidad de la difracción es posible
determinar las posiciones de los átomos en la celda
unitaria.
λ

4. • La interferencia es destructiva cuando la diferencia de
fases entre las ondas es un múltiplo impar de media λ.
δ1-δ2 = n 2π
2
(n = 1, 3, 5, 7…)
δ1-δ2 = π, 3π, 5π
• La interferencia es constructiva cuando la diferencia de
fases entre las ondas es un múltiplo entero de λ.
δ1-δ2 = n 2π
(n = 0,1, 2,3,4, 5…)
δ1-δ2 = 0, 2π, 4π, 6π