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O Sistema de MediçãoO Sistema de Medição
Fundamentos da MetrologiaFundamentos da Metrologia
Científica e IndustrialCientífica e Industrial
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4.14.1
Métodos básicos de mediçãoMétodos básicos de medição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 3/42)
Método da comparaçãoMétodo da comparação
 O valor do mensurando é determinadoO valor do mensurando é determinado
comparando-o com um artefato cujo valor decomparando-o com um artefato cujo valor de
referência é muito bem conhecido.referência é muito bem conhecido.
0
medidas
materializadas
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 4/42)
DefiniçãoDefinição
 Medida materializada:Medida materializada:
 Dispositivo destinado a reproduzir ouDispositivo destinado a reproduzir ou
fornecer, de maneira permanente durante seufornecer, de maneira permanente durante seu
uso, um ou mais valores conhecidos de umauso, um ou mais valores conhecidos de uma
dada grandeza.dada grandeza.
 São exemplos: massas-padrão; resistorSão exemplos: massas-padrão; resistor
elétrico padrão; um bloco-padrão; um materialelétrico padrão; um bloco-padrão; um material
de referência.de referência.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 5/42)
Método da indicaçãoMétodo da indicação
 Mostram um número proporcional ao valorMostram um número proporcional ao valor
do mesurando.do mesurando.
Galvanômetro.
Termômetro de Bulbo.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 6/42)
Medição diferencialMedição diferencial
 A pequena diferença entre oA pequena diferença entre o
mensurando e uma medidamensurando e uma medida
materializada é indicada.materializada é indicada.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 7/42)
Medição diferencialMedição diferencial
base
coluna
relógio
comparador
0
0
d
padrão peçapeça
d
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 8/42)
característica indicação comparação diferencial
velocidade de medição muito rápido muito lento rápido
facilidade de automação muito fácil muito difícil muito fácil
estabilidade com tempo instável muito estável muito estável
custo moderado a
elevado
elevado moderado
muito usada
na indústria
Análise comparativaAnálise comparativa
A seleção do melhor método de medição depende de uma série de
características da aplicação para a qual a medição se destina.
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4.24.2
Módulos básicos de um sistemaMódulos básicos de um sistema
de mediçãode medição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 10/42)
Módulos básicos de um SMMódulos básicos de um SM
transdutor
e/ou
sensor
transdutor
e/ou
sensor
unidade de
tratamento
do sinal
unidade de
tratamento
do sinal
dispositivo
mostrador
ou
registrador
dispositivo
mostrador
ou
registrador
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mensurando
sistema de medição
• em contato com
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usuário
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A grande maioria dos sistema de medição que operam pelo
princípio da indicação apresenta três módulos funcionais bem
definidos
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 11/42)
Dispositivos registradoresDispositivos registradores
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 12/42)
Módulos de um SMMódulos de um SM
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Módulos de um SMMódulos de um SM
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tratamento de sinais
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4.34.3
Características metrológicas dosCaracterísticas metrológicas dos
sistemas de mediçãosistemas de medição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 16/42)
Quanto à faixa de utilização...Quanto à faixa de utilização...
 Faixa de indicaçãoFaixa de indicação
 intervalo compreendido entre o menor e ointervalo compreendido entre o menor e o
maior valor que pode ser indicado.maior valor que pode ser indicado.
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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 17/42)
Quanto à faixa de utilização...Quanto à faixa de utilização...
 Faixa nominalFaixa nominal
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qual o sistema de medição foi desenhadoqual o sistema de medição foi desenhado
para operar.para operar.
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ExemploExemplo
3½
dígitos0 a 1000 V
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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 19/42)
Quanto à indicação ...Quanto à indicação ...
 Valor de uma divisão (da escala)Valor de uma divisão (da escala)
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correspondentes à duas marcas sucessivas.correspondentes à duas marcas sucessivas.
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Quanto à indicação ...Quanto à indicação ...
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Quanto à indicação ...Quanto à indicação ...
 ResoluçãoResolução
 é a menor diferença entre indicações queé a menor diferença entre indicações que
pode ser significativamente percebidapode ser significativamente percebida
 Nos instrumentos digitais é igual aoNos instrumentos digitais é igual ao
incremento digitalincremento digital
 Nos instrumentos analógicos pode ser:Nos instrumentos analógicos pode ser:
 VDVD
 VD/2VD/2
 VD/5VD/5
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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 22/42)
Relação estímulo/respostaRelação estímulo/resposta
 Sensibilidade (constante):Sensibilidade (constante):
0 mm
40 mm
400 N
0 mm
4 mm
400 N
A B
F (N)
d (mm)
0 400
40
4
B
A
∆ resposta
∆ estímulo
SbA = 0,01 mm/N SbB = 0,10 mm/N
Δestimulo
Δresposta
Sb =
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 23/42)
Quanto ao erro de medição ...Quanto ao erro de medição ...
 RepetitividadeRepetitividade
 faixa dentro da qual é esperado o errofaixa dentro da qual é esperado o erro
aleatório em medições repetidasaleatório em medições repetidas
realizadas nas mesmas condições.realizadas nas mesmas condições.
 Reprodutibilidade (Reprodutibilidade (exprime a intensidade com queexprime a intensidade com que
agem os erros aleatórios)agem os erros aleatórios)
 faixa dentro da qual é esperado o errofaixa dentro da qual é esperado o erro
aleatório em medições repetidasaleatório em medições repetidas
realizadas em condições variadas.realizadas em condições variadas.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 24/42)
Quanto ao erro de medição ...Quanto ao erro de medição ...
 Erro de linearidade (Erro de linearidade ( é um parâmetro que exprime oé um parâmetro que exprime o
quanto a curva característica de resposta real se afasta da linha retaquanto a curva característica de resposta real se afasta da linha reta
idealideal ))
estímulo
resposta
d2d1
reta MMQ
EL = máx(d1, d2)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 25/42)
Quanto ao erro de medição ...Quanto ao erro de medição ...
 Erro máximo ( é o parâmetro numérico que melhor descreve
a qualidade global do sistema de medição )
Erro
Indicação
Es
Re
Re
Emáx
- Emáx
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 26/42)
Quanto a erros de medição ...Quanto a erros de medição ...
 Precisão e exatidãoPrecisão e exatidão
 são termos apenassão termos apenas qualitativosqualitativos. Não. Não
podem ser associados a números.podem ser associados a números.
 PrecisãoPrecisão significasignifica pouca dispersãopouca dispersão. Está. Está
associado ao baixo nível de errosassociado ao baixo nível de erros
aleatórios.aleatórios.
 ExatidãoExatidão é sinônimo de “é sinônimo de “sem errossem erros”. Um”. Um
sistema de medição com grande exatidãosistema de medição com grande exatidão
apresenta pequenos erros sistemáticos eapresenta pequenos erros sistemáticos e
aleatórios.aleatórios.
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4.44.4
Representação absoluta e relativaRepresentação absoluta e relativa
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 28/42)
Representação absolutaRepresentação absoluta
 Parâmetros expressos na unidade doParâmetros expressos na unidade do
mensurando:mensurando:
 EEmáxmáx = 0,003 V= 0,003 V
 Re = 1,5 KRe = 1,5 K
 Sb = 0,040 mm/NSb = 0,040 mm/N
 É de percepção mais fácil.É de percepção mais fácil.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 29/42)
 Parâmetro é expresso como umParâmetro é expresso como um
percentual de um valor de referênciapercentual de um valor de referência
 Em relação ao valor final de escala (VFE)Em relação ao valor final de escala (VFE)
 EEmáxmáx = 1% do VFE= 1% do VFE
 EL = 0,1% (do VFE)EL = 0,1% (do VFE)
 Em relação à faixa de indicaçãoEm relação à faixa de indicação
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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial

  • 1. www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 44 O Sistema de MediçãoO Sistema de Medição Fundamentos da MetrologiaFundamentos da Metrologia Científica e IndustrialCientífica e Industrial
  • 2. www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 4.14.1 Métodos básicos de mediçãoMétodos básicos de medição
  • 3. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 3/42) Método da comparaçãoMétodo da comparação  O valor do mensurando é determinadoO valor do mensurando é determinado comparando-o com um artefato cujo valor decomparando-o com um artefato cujo valor de referência é muito bem conhecido.referência é muito bem conhecido. 0 medidas materializadas
  • 4. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 4/42) DefiniçãoDefinição  Medida materializada:Medida materializada:  Dispositivo destinado a reproduzir ouDispositivo destinado a reproduzir ou fornecer, de maneira permanente durante seufornecer, de maneira permanente durante seu uso, um ou mais valores conhecidos de umauso, um ou mais valores conhecidos de uma dada grandeza.dada grandeza.  São exemplos: massas-padrão; resistorSão exemplos: massas-padrão; resistor elétrico padrão; um bloco-padrão; um materialelétrico padrão; um bloco-padrão; um material de referência.de referência.
  • 5. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 5/42) Método da indicaçãoMétodo da indicação  Mostram um número proporcional ao valorMostram um número proporcional ao valor do mesurando.do mesurando. Galvanômetro. Termômetro de Bulbo.
  • 6. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 6/42) Medição diferencialMedição diferencial  A pequena diferença entre oA pequena diferença entre o mensurando e uma medidamensurando e uma medida materializada é indicada.materializada é indicada.
  • 7. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 7/42) Medição diferencialMedição diferencial base coluna relógio comparador 0 0 d padrão peçapeça d
  • 8. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 8/42) característica indicação comparação diferencial velocidade de medição muito rápido muito lento rápido facilidade de automação muito fácil muito difícil muito fácil estabilidade com tempo instável muito estável muito estável custo moderado a elevado elevado moderado muito usada na indústria Análise comparativaAnálise comparativa A seleção do melhor método de medição depende de uma série de características da aplicação para a qual a medição se destina.
  • 9. www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 4.24.2 Módulos básicos de um sistemaMódulos básicos de um sistema de mediçãode medição
  • 10. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 10/42) Módulos básicos de um SMMódulos básicos de um SM transdutor e/ou sensor transdutor e/ou sensor unidade de tratamento do sinal unidade de tratamento do sinal dispositivo mostrador ou registrador dispositivo mostrador ou registrador indicação ou registro mensurando sistema de medição • em contato com o mensurando • transformação de efeitos físicos • sinal fraco • amplifica potência do sinal do transdutor • pode processar o sinal • torna o sinal perceptível ao usuário • pode indicar ou registrar o sinal A grande maioria dos sistema de medição que operam pelo princípio da indicação apresenta três módulos funcionais bem definidos
  • 11. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 11/42) Dispositivos registradoresDispositivos registradores
  • 12. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 12/42) Módulos de um SMMódulos de um SM F d transdutor dispositivo mostrador
  • 13. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 13/42) Módulos de um SMMódulos de um SM F D A transdutor dispositivo mostrador unidade de tratamento de sinais
  • 14. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 14/42) Módulos de um SMMódulos de um SM PW A F N B 14,5 N ID
  • 15. www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 4.34.3 Características metrológicas dosCaracterísticas metrológicas dos sistemas de mediçãosistemas de medição
  • 16. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 16/42) Quanto à faixa de utilização...Quanto à faixa de utilização...  Faixa de indicaçãoFaixa de indicação  intervalo compreendido entre o menor e ointervalo compreendido entre o menor e o maior valor que pode ser indicado.maior valor que pode ser indicado. faixa de indicação 4 dígitos
  • 17. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 17/42) Quanto à faixa de utilização...Quanto à faixa de utilização...  Faixa nominalFaixa nominal  faixa ativa selecionada pelo usuário.faixa ativa selecionada pelo usuário.  Faixa de mediçãoFaixa de medição  faixa de valores do mensurando para afaixa de valores do mensurando para a qual o sistema de medição foi desenhadoqual o sistema de medição foi desenhado para operar.para operar.
  • 18. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 18/42) ExemploExemplo 3½ dígitos0 a 1000 V 0 a 200 V 0 a 20 V 0 a 2 V 0 a 200 mV Faixas nominais
  • 19. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 19/42) Quanto à indicação ...Quanto à indicação ...  Valor de uma divisão (da escala)Valor de uma divisão (da escala)  diferença entre os valores da escaladiferença entre os valores da escala correspondentes à duas marcas sucessivas.correspondentes à duas marcas sucessivas. 00 11 22 33 44
  • 20. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 20/42) Quanto à indicação ...Quanto à indicação ... g 1,0 quantidade de açúcar (g) indicação (g) 2,0 3,0 4,0 5,0 6,0 1,0 2,0 3,0 4,0 0,0 0,0 incremento digital01234 Incremento digital
  • 21. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 21/42) Quanto à indicação ...Quanto à indicação ...  ResoluçãoResolução  é a menor diferença entre indicações queé a menor diferença entre indicações que pode ser significativamente percebidapode ser significativamente percebida  Nos instrumentos digitais é igual aoNos instrumentos digitais é igual ao incremento digitalincremento digital  Nos instrumentos analógicos pode ser:Nos instrumentos analógicos pode ser:  VDVD  VD/2VD/2  VD/5VD/5  VD/10VD/10
  • 22. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 22/42) Relação estímulo/respostaRelação estímulo/resposta  Sensibilidade (constante):Sensibilidade (constante): 0 mm 40 mm 400 N 0 mm 4 mm 400 N A B F (N) d (mm) 0 400 40 4 B A ∆ resposta ∆ estímulo SbA = 0,01 mm/N SbB = 0,10 mm/N Δestimulo Δresposta Sb =
  • 23. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 23/42) Quanto ao erro de medição ...Quanto ao erro de medição ...  RepetitividadeRepetitividade  faixa dentro da qual é esperado o errofaixa dentro da qual é esperado o erro aleatório em medições repetidasaleatório em medições repetidas realizadas nas mesmas condições.realizadas nas mesmas condições.  Reprodutibilidade (Reprodutibilidade (exprime a intensidade com queexprime a intensidade com que agem os erros aleatórios)agem os erros aleatórios)  faixa dentro da qual é esperado o errofaixa dentro da qual é esperado o erro aleatório em medições repetidasaleatório em medições repetidas realizadas em condições variadas.realizadas em condições variadas.
  • 24. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 24/42) Quanto ao erro de medição ...Quanto ao erro de medição ...  Erro de linearidade (Erro de linearidade ( é um parâmetro que exprime oé um parâmetro que exprime o quanto a curva característica de resposta real se afasta da linha retaquanto a curva característica de resposta real se afasta da linha reta idealideal )) estímulo resposta d2d1 reta MMQ EL = máx(d1, d2)
  • 25. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 25/42) Quanto ao erro de medição ...Quanto ao erro de medição ...  Erro máximo ( é o parâmetro numérico que melhor descreve a qualidade global do sistema de medição ) Erro Indicação Es Re Re Emáx - Emáx
  • 26. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 26/42) Quanto a erros de medição ...Quanto a erros de medição ...  Precisão e exatidãoPrecisão e exatidão  são termos apenassão termos apenas qualitativosqualitativos. Não. Não podem ser associados a números.podem ser associados a números.  PrecisãoPrecisão significasignifica pouca dispersãopouca dispersão. Está. Está associado ao baixo nível de errosassociado ao baixo nível de erros aleatórios.aleatórios.  ExatidãoExatidão é sinônimo de “é sinônimo de “sem errossem erros”. Um”. Um sistema de medição com grande exatidãosistema de medição com grande exatidão apresenta pequenos erros sistemáticos eapresenta pequenos erros sistemáticos e aleatórios.aleatórios.
  • 27. www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 4.44.4 Representação absoluta e relativaRepresentação absoluta e relativa
  • 28. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 28/42) Representação absolutaRepresentação absoluta  Parâmetros expressos na unidade doParâmetros expressos na unidade do mensurando:mensurando:  EEmáxmáx = 0,003 V= 0,003 V  Re = 1,5 KRe = 1,5 K  Sb = 0,040 mm/NSb = 0,040 mm/N  É de percepção mais fácil.É de percepção mais fácil.
  • 29. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 4 - (slide 29/42)  Parâmetro é expresso como umParâmetro é expresso como um percentual de um valor de referênciapercentual de um valor de referência  Em relação ao valor final de escala (VFE)Em relação ao valor final de escala (VFE)  EEmáxmáx = 1% do VFE= 1% do VFE  EL = 0,1% (do VFE)EL = 0,1% (do VFE)  Em relação à faixa de indicaçãoEm relação à faixa de indicação  Em relação ao valor nominal (medidasEm relação ao valor nominal (medidas materializadas)materializadas)  Facilita comparações entre SM distintosFacilita comparações entre SM distintos Representação relativa ouRepresentação relativa ou fiducialfiducial