1. A metrologia estuda a medição e suas aplicações no dia-a-dia e na ciência e indústria. 2. Medir é determinar o valor de uma grandeza física em relação a uma unidade padrão através de um procedimento experimental. 3. As medições são realizadas para monitorar, controlar e investigar fenômenos e processos.

1. 1
Medir
Fundamentos da Metrologia
Científica e Industrial
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

2. Medições no dia-a-dia
Potência da Horário do Comprimento
lâmpada despertador da calça
Tempo de Volume de Volume de Temperatura
cozimento leite combustível da geladeira
Velocidade Pressão dos Consumo de
do automóvel pneus energia
Dimensões Rotação do Tamanho do Quantidade
das peças motor peixe de arroz
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 2/30)

3. Importância de medir
"O conhecimento amplo e satisfatório
sobre um processo ou fenômeno
somente existirá quando for possível
medi-lo e expressá-lo através de
números".
Lord Kelvin, 1883
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 3/30)

4. Exemplo de medição 1
mensurando
indicação
2,4 unidades
unidade
0 1 2 3 4
instrumento de medição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 4/30)

5. Exemplo de medição 2
tensão do gerador: 5,305 V
constante do sistema de medição: 15,080 (km/h)/V
velocidade: 5,305 V . 15,080 (km/h)/V = 80,0 km/h
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 5/30)

6. 1.2
O que é medir?
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

7. O que é medir?
Medir é o procedimento experimental
através do qual o valor momentâneo de
uma grandeza física (mensurando) é
determinado como um múltiplo e/ou
uma fração de uma unidade,
estabelecida por um padrão, e
reconhecida internacionalmente.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 7/30)

8. Algumas definições
 Mensurando é o objeto da medição. É a
grandeza específica submetida a medição.
 Indicação é o valor de uma grandeza
fornecido por um sistema de medição.
 Indicação direta é o número mostrado pelo
sistema de medição. A indicação direta pode
ou não ser apresentada na unidade do
mensurando.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 8/30)

9. mensurando
tensão do gerador: 5,305 V indicação direta
constante do sistema de medição: 15,080 (km/h)/V
velocidade: 5,305 V . 15,080 (km/h)/V = 80,0 km/h indicação
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 9/30)

10. 1.3
Medir para que?
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

11. Medir para que?
 Monitorar
 Observar passivamente grandezas
 Controlar
 Observar, comparar e agir para manter dentro
das especificações.
 Investigar
 Descobrir o novo, explicar, formular.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 11/30)

12. Medir para monitorar...
 Compra e venda de produtos e
serviços:
 consumo de água, energia elétrica,
taxímetro, combustíveis, etc.
 Sinais vitais:
 pressão arterial, temperatura,
nível de colesterol
 Atividades desportivas:
 desempenho, recordes
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 12/30)

13. Medir para monitorar...
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 13/30)

14. Medir para controlar...
Especificações
xxxx ± xx
yyyy ± yy
zzz ± z
Medir
Comparar
Agir
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 14/30)

15. Medir para controlar...
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 15/30)

16. Medir para controlar...
rota
pressão
altitude
temperatura
velocidade
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 16/30)

17. Medir para investigar...
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 17/30)

18. Medir para investigar...
Pequenas diferenças nas
medidas podem levar a
conclusões completamente
diferentes.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 18/30)

19. Medir para investigar...
 Compreender
 Descobertas científicas, estudar fenômenos
 Dominar
 Validar, know-how
 Evoluir
 Melhorar continuamente, expandir limites
 Inovar
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 19/30)

20. Elementos da inovação
tecnológica
pesquisa aplicada CQ patenteamento
Idéia
Produto
invento ensaios desenvolvimento certificação
Serviço
oportunidade prototipagem design marketing produção Inovador
processos fabricação plano produção
Onde tem metrologia?
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 20/30)

21. 1.4
Errar é inevitável
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

22. Medições geram erros
má definição do
mensurando imperfeições do
sistema de medição
Sistema de
mensurando indicação
medição
± ERROS
procedimento
de medição influência do
operador
condições
ambientais
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 22/30)

23. 1.5
O processo de medição
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

24. Processo de medição
definição do procedimento
mensurando de medição
resultado da
medição
condições operador sistema de
ambientais medição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 24/30)

25. 1.6
O resultado da medição
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

26. Resultado da medição
Sistema de
mensurando indicação
medição
-IM RB +IM
VV
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 26/30)

27. Resultado da medição
 É a faixa de valores dentro da qual deve se
situar o valor verdadeiro do mensurando.
RM = (RB ± IM) unidade
 Resultado base é a estimativa do valor do
mensurando que, acredita-se, mais se aproxime
do seu valor verdadeiro.
 Incerteza da medição é o tamanho da faixa
simétrica, e centrada em torno do resultado
base, que delimita a faixa onde se situam as
dúvidas associadas à medição.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 27/30)

28. Pilares da Metrologia
Conhecimento
Honestidade
Bom-senso
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 28/30)

29. 1.7
A linguagem da metrologia
www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI

30. A linguagem da metrologia
 Até 1995:
“Torre de Babel”
 Em 10 de Março de 1995:
Portaria INMETRO n° 029
“Vocabulário de Termos Fundamentais e
Gerais de Metrologia” (VIM)
Em sintonia com: ISO, BIPM, IEC, IFCC,
IUPAC, IUPAP
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 30/30)